WBLZ-370中慧电磁式及高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本

产品简介 本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可*损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。