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晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A

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产品名称: 晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A
产品型号: NIB-2961A
产品展商: 其它
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简单介绍

晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A测试中小功率半导体三管开关参数,功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。 Td延迟时间 tr被测晶体管上升时间

晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A

的详细介绍
晶体管开关参数测试仪
型号:NIB-2961A
货号:ZH9827
:
测试中小功率半导体三管开关参数,功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。
Td延迟时间
tr被测晶体管上升时间
ton晶体管开启时间
ts存贮时间
tf被测晶体管下降时间
toff晶体管下降时间
主要参数
测量范围:由5nS至500 nS
测量条件
Ib1=Ib2=1mA,  Ic=10 mA
 2) Ib1=Ib2=3mA,Ic=300 mA
 3) Ib1=Ib2=10mA,Ic=100 mA
 4) Ib1=Ib2=30mA,Ic=300 mA
 5) Ib1=Ib2=50mA,Ic=500 mA
脉冲宽度:0.7-2.5uS
±脉冲**:≤2nS
±脉冲幅度:±10V±0.5V
指标
脉冲信号源:频率20K
取样示波器:带宽: 1000MHz
扫   速:20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm 200nS/cm
CRT显示输入/输出波形 计算机显示测量参数及测量结果。
晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A


 
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