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晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A
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产品名称:
晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A
产品型号:
NIB-2961A
产品展商:
其它
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简单介绍
晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A测试中小功率半导体三管开关参数,功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。
Td延迟时间
tr被测晶体管上升时间
晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A
的详细介绍
晶体管开关参数测试仪
型号:NIB-2961A |
货号:ZH9827 |
产品简介:
测试中小功率半导体三管开关参数,功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。
Td延迟时间
tr被测晶体管上升时间
ton晶体管开启时间
ts存贮时间
tf被测晶体管下降时间
toff晶体管下降时间
主要参数
测量范围:由5nS至500 nS
测量条件
Ib1=Ib2=1mA, Ic=10 mA
2) Ib1=Ib2=3mA,Ic=300 mA
3) Ib1=Ib2=10mA,Ic=100 mA
4) Ib1=Ib2=30mA,Ic=300 mA
5) Ib1=Ib2=50mA,Ic=500 mA
脉冲宽度:0.7-2.5uS
±脉冲**:≤2nS
±脉冲幅度:±10V±0.5V
指标
脉冲信号源:频率20K
取样示波器:带宽: 1000MHz
扫 速:20nS/cm . 50nS/cm . 100nS/cm 200nS/cm
CRT显示输入/输出波形 计算机显示测量参数及测量结果。
晶体管开关参数测试仪 型号:NIB-2961A |

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