微位移测试仪 型号：HXW-II

产品简介:
自动化控制和光学设备在定位、校正、检测、光路对准中都要用到精密移动与控制。微位移测试仪是能够实现精密位移的微位移测控设备，**针对各企业众多产品的对准、调节、位移和封装等，以产品的不同而配对的精密平台可作X轴、Y轴、Z轴、R轴、S轴手动/自动调整，微分头精密移动调整。实现精密移动，重复定位精度高、性能稳定、重复性好、配套组合功能齐，并且模块式结构组合拆卸方便，并提供系列化组合平台用于固定装置的卡具和托架。可以在摇摆台小角度摇摆情况下距离几米外*接触测量，对被测对象额外增加的（用于测试所需的）负载体积小、重量轻。
测试功能：
 1、在被测对象同时存在平动及转动的情况下实现对被测对象方位及俯仰两轴转动的同时测试，测量时对被测对象*接触；
 2、被测对象运动测量的角分辨率：2＂，精度10＂；
 3、测量范围(被测对象方位及俯仰方向转角范围) ：±2.25 °；
 4、测量频率（帧频）：不低于1000Hz， 在1000Hz帧频满幅情况下持续测试时间不少于4s。
微位移测试仪 型号：HXW-II