ZH-4511L-R 颗粒碰撞噪声检测仪 美国 型号：ZH-4511L-R

产品简介:  
颗粒碰撞噪声检测仪**应用于**电子和机械类产品的设计开发、测试和程序改进。
颗粒碰撞噪声检测仪（SD PIND）用于电子元器件封装后，对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验，目的在于检测器件封装腔体内存在的多余粒子，是一种非破坏性实验。
颗粒碰撞噪声检测仪适用范围：用于检测集成电路、继电器、半导体分立器件、光电器件等电子
元器件封装内的多余物松散颗粒，即PIND试验。
双面声藕合胶片和声藕合胶水是用于颗粒碰撞噪声检测仪实验时使用的。
标准：MIL-STD883E, MIL-STD750, and MIL-STD39016和国军标。

指标：
型　号：ZH-4511L、ZH-4511L-R
组　成：控制仪、振动台、示波器、传感器等
载荷：400g（25Hz~250Hz）、500g（60Hz时）
冲击加速度：100g~3000g、100g~800g
振动频率：25Hz~250Hz
振动加速度：0.1g~25.5g
噪声传感器灵敏度：-77.5±3（DBD）relv（1bar,155kHz）
外形尺寸（高×宽×深）：主机250mm×650mm×450mm