WBLH-200J 高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLH-200J

产品简介
   本仪器采用了涡流测厚方法，可*损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法:高频涡流式
测定对象:非磁性金属上*缘层
测定范围:电磁式：0～800um或0～32.0mils
测定精度:<50um±1um  >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um
界限设定:可设定上/下限数值
测试单位:公/英制互换
显示方式:LCD数显
操作面板:密封*水按键
附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
体积:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g