产品[
便携式电阻率测试仪/方阻测试仪(成套) GDSKDT-1 B探头 型号：GDS/KDY-1A
]资料
产品名称:
便携式电阻率测试仪/方阻测试仪(成套) GDSKDT-1 B探头 型号：GDS/KDY-1A
产品型号:
GDS/KDY-1A
产品展商:
国产
产品文档:
*相关文档
简单介绍
便携式电阻率测试仪/方阻测试仪(成套) GDSKDT-1 B探头 型号：GDS/KDY-1A 整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。 测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
便携式电阻率测试仪/方阻测试仪(成套) GDSKDT-1 B探头 型号：GDS/KDY-1A
的详细介绍
| 便携式电阻率测试仪/方阻测试仪(成套) GDSKDT-1 B探头 型号：GDS/KDY-1A | 货号：ZH420 | 产品简介
1、半导体材料电阻率的及标准测试方法。
2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。
3、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm 。
方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。
4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档**在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。
5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；
整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。
测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。
6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。
7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。
| 
|
上一条：智能烟气采样仪 | 下一条：两探针电阻率测试仪ρ：0.005～50000Ω•cm |
|
|
 |