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四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1

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产品名称: 四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1
产品型号: GDS/KDY-1
产品展商: 国产
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简单介绍

四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。

四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1

的详细介绍
四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1货号:ZH221
严格按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进
是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。
本仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些箔层材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护箔膜。仪器配置了本公司的专利产品:“小游移四探针头”,探针游移率在0.1~0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器,测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正,并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的蕞大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。
2、主机技术能数
(1)测量范围:
可测电阻率:0.0001~19.9999cm
可测方块电阻:0.0001~1000Ωcm
(2)恒流源:
输出电流:DC 0.001~100mA 五档连续可调
量程:0.001~0.01mA
0.01~0.10mA
0.10~1.0mA
1.0~10mA
10~100mA
恒流精度:各档均低于±0.05%
(3)直流数字电压表:
测量范围:0~19.999mV
灵敏度:1μV
基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度)
输出电源:≥1000ΩM
(4)供电电源:
AC 220V±10% 50/60 Hz 功率:12W
(5)使用环境:
温度:23±2℃ 相对湿度:≤65%
无较强的电场干扰,无强光直接照射
(6)重量、体积:
主机重量:7.5kg
体积:365×380×160(单位:mm 长度×宽度×高度)

 
四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1
四探针电阻率/方阻测试仪(灵敏度:10μV)/ 型号:GDS/KDY-1
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