并口
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作
双CPU工作，速度*快，效率*高。
功能测试40×2通道
VI曲线测试40×2通道
双测试夹VI曲线测试
网络提取 程控加电
EPROM/RAM在线读取
模拟器件 VI曲线测试
总线隔离信号
中文维修笔记
功能测试软件设上拉电阻——集电*开路门的测试
功能测试外供电源——被测电路板可测试
功能测试具有三态识别能力——可测三态器件和IC负载能力下降故障
V/I测试正负扫描电压——同时检查正/反向V/I曲线
V/I测试六个扫描频率——V/I曲线测试
V/I测试三种测试电压幅度——器件的V/I测试
集成电路在线功能测试
采用后驱动隔离，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测74系列、4000/45000逻辑IC、75系列接口IC及多种存储器等集成电路。
1.直接显示测试结果，确定可疑IC
2.显示测试过程，测试激励。预期和实际响应，帮助分析故障原因
3.查找*标记型号IC或同功能不同型号的IC。
集成电路在线状态测试通过好坏板上相应IC的状态进行比较，找出有故障的IC。
1.状态学习：在线学习*故障IC的引脚关系，互连状态和测试的激励与响应，并存入数据库中
2.状态比较：同故障板上相应IC在线进行状态比较，根据两者差异判定IC好坏
3.状态显示：显示存入电脑库中的各IC的状态资料。
集成电路离线功能测试
离线测试IC功能好坏，自动识别未知型号的芯片
V/I曲线测试
通过好坏板上相应节点的动态阻抗圈的异同判定故障节点及故障IC
1.曲线学习：在线学习*故障板上节点的动态阻抗曲线（V/I曲线），并存入数据库中
2.曲线比较：同故障板上相应节点的动态阻抗曲进行比较，根据差异大小及维修经验判定与此节点相关的IC是否损坏
3.曲线显示：显示已存入电脑库中电路板上节点的动态阻抗图资料集成电路分析测试网络提取测试使用户方便的测试出元器件之间的连接关系，；辅助判断芯片的好坏。实现网络提取采用了四种模式：
1.探棒对探捧（“棒”—“棒”模式）
2.探捧对测试夹（“棒”—“夹”模式）
3.测试夹对探捧（“夹”—“棒”模式）
4.测试夹对测试夹（“夹”—“夹”模式）
开发编译
1.TVED允许两种建立测试图形和方法；
a在TVED图形界面上直接建立；
b.读入DCL语言的编译结果；
2.编辑测试图形 利用TVED提供的波形编辑功能，参考取回的响应，不断对测试图形加以调整、修改；
3.四种测试方式；