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紫外线强度计性能指标
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
性能指标：
波长范围及峰值波长：
探头：（光谱响应曲线）
λ：(230～300)nm；λp=254nm
探头：（光谱响应曲线）
λ：(275～330)nm；λp=297nm
辐照度测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外带外区杂光：小于0.05％
准确度：±10％
角度响应特性：二光照度计标准
响应时间：1秒
环境温度：(0~40)℃；
环境湿度：＜85％RH
尺 寸：180mm×80mm×36mm；
重 量：0.2kg
电 源：9V积层电池一只