**文章
WJ-100B微波光电导载流子复合寿命测试仪_少子寿命测定仪（测棒）
微波光电导载流子复合寿命测试产品简介：
微波光电导载流子复合寿命测试仪是参照半导体设备和材料组织SEMI标准MF1535-0707及标准GB/T 26068-2010设计制造。
微波光电导载流子复合寿命测试仪采用微波反射*接触光电导衰退测量方法，适用于硅块少数载流子寿命的测量，提供*接触、*损伤、数字显示的快速测量。寿命测量可灵敏地反映半导体重金属污染及缺陷存在的情况，是半导体的重要检测项目。
微波光电导载流子复合寿命测试参数：
读数方式：数字直读
寿命测量范围：0.25μs-10ms
样品电阻率下限>0.5Ω·cm
高频光电导少数载流子寿命测试仪备注：WJ-100B型微波光电导载流子复合寿命测试仪用于测量棒状样品，测量片状样品选用WJ-100A型微波光电导载流子复合寿命测试仪！