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HXJ-LDW-4电子逸出功实验仪

HXJ-LDW-4金属电子逸出功测定仪_电子逸出功实验仪
HXJ-LDW-4电子逸出功实验仪
型号:HXJ-LDW-4
产地:
:意大利HANNA
价格:面议
有事Q我
服务专线
010-59488880
根据索末菲提出的金属自由电子模型,认为金属内部自由电子的势能恒定,并可以令它为零,自由电子可以在金属内自由运动,在金属表面则有一个足够高的势垒(aW,单位J)阻止着自由电子从金属表面逸出。金属电子逸出功测定仪通过实验验证。
注:产品图片仅供参考,具体请以实物为准
产品价格仅供参考,具体请以订单合同为准

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金属电子逸出功测定仪产品简介:
电子逸出功实验仪为大学近代物理实验,了解热电子发射的基本规律,采用理查孙直线法测定金属钨的电子逸出功,并提供实验软件,由微机(自备)显示图形和数据。
金属电子逸出功测定实验
金属电子逸出功测定仪实验目的:
1.了解热电子发射的基本规律
2.用里查逊直线法测定金属钨的电子逸出功
金属电子逸出功测定仪参数:
二 管:**标准型
加热方式:直热式
灯丝电流:1000mA
阳电压:150V
阳电流:1000μA
实验连接线:7条
实验软件
数据采集:RS232接口
金属电子逸出功测定仪主要组成:
测试仪主机                     一台
说明书                             一份
合格证                             一份

http://www.ghitest.com/ProductShow_1111.html

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