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JKSRPT-TT2硅材料测试仪_便携式四探针测试仪
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JKSRPT-TT2便携式四探针测试仪
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型号:JKSRPT-TT2
产地:
:中慧天诚
价格:面议
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服务专线
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010-59488880
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硅材料综合测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,拥有较高的电阻率测试分辨率,可到0.001 欧姆.厘米”,能的分辨电阻率在0.002 欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号。
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注:产品图片仅供参考,具体请以实物为准
产品价格仅供参考,具体请以订单合同为准
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硅材料综合测试仪简介:
便携式四探针测试仪使用9V扣式电池供电。
具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。
预设样片厚度,自动修正,直读电阻率。
便携式四探针测试仪报警门限预设0-1.0,按0.1步进,0不报警。
整机尺寸:65×25×130 mm
电 阻 率:0.001-100欧姆厘米。
测量精度:到百分位(即小数点后三位)
误差范围:<1欧姆厘米偏差一般不超过5%±2LSB
1.01-50欧姆厘米偏差一般不超过10%±2LSB
P/N型号:0.5欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米。
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http://www.ghitest.com/ProductShow_1605.html
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名称:JKX-2008硅材
型号:JKX-2008
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名称:MINIHI-09硅
型号:MINIHI-09
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名称:DQZRT-100硅
型号:DQZRT-100
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名称:JKXT-VI硅材料
型号:JKXT-VI
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名称:NXTM-2B单晶P
型号:NXTM-2B
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名称:NXTM-3C**多
型号:NXTM-3C
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名称:NXTPT-VI便携
型号:NXTPT-VI
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名称:NXTR-1A/1B
型号:NXTR-1A/1B
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名称:SHY-JSTZ-8
型号:SHY-JSTZ-8
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名称:GDSKDY-1四探
型号:GDSKDY-1
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